В урне 5 белых и 15 черных шаров. Извлекаются два шара с возвращением. Случайная величина 𝜉 – число вынутых черных шаров
Алгебра | ||
Решение задачи | ||
Выполнен, номер заказа №16253 | ||
Прошла проверку преподавателем МГУ | ||
Напишите мне в чат, пришлите ссылку на эту страницу в чат, оплатите и получите файл! |
Закажите у меня новую работу, просто написав мне в чат! |
В урне 5 белых и 15 черных шаров. Извлекаются два шара с возвращением. Случайная величина 𝜉 – число вынутых черных шаров. Найти: 1) Закон распределения случайной величины 𝜉. 2) Функцию распределения 𝐹(𝑥), её аналитический вид и график; 3) Математическое ожидание 𝑀[𝜉], дисперсию 𝐷[𝜉], среднее квадратичное отклонение 𝜎; 4) Вычислить вероятности 𝑃(0 < 𝜉 ≤ 1), 𝑃(𝜉 > 1), 𝑃(𝜉 ≤ 0).
Решение
Случайная величина 𝜉 – число вынутых черных шаров, может принимать значения: Обозначим события: 𝐴1 − при первом извлечении был черный шар; 𝐴2 − при втором извлечении был черный шар; 𝐴1 ̅̅̅ − при первом извлечении был белый шар; 𝐴2 ̅̅̅ − при втором извлечении был белый шар. Вероятности этих событий (по классическому определению вероятностей, учитывая, что вынутый шар возвращается в урну) равны: Тогда Вероятности событий найдем по формулам сложения и умножения вероятностей для независимых событий. Нет ни одного черного шара: Извлечен один черный шар: Извлечены два черных шара: 1) Закон распределения имеет вид: 2) Функция распределения выглядит следующим образом (аналитический вид): График функции распределения: 3) Математическое ожидание 𝑀[𝜉] равно: Дисперсия 𝐷[𝜉] равна: Среднее квадратическое отклонение 𝜎[𝜉] равно: 4) Вычислим вероятности по найденному закону распределения:
- Два товароведа проверяют партию изделий. Производительность их труда соотносится как 5:4. Вероятность
- Из ящика, содержащего 2 бракованные и 6 стандартных деталей, наугад извлекают 2 детали. Найти закон распределения
- Производится 2 независимых выстрела с вероятностями попадания в цель соответственно 0,6 и 0,5. 𝑋 – число попаданий в мишень. Для этой случайной
- 20% приборов монтируется с применением микромодулей, остальные – с применением интегральных схем. Надежность прибора с применением